SK하이닉스, 실패사례 경진대회 ‘좋았을 컬’ 개최

SK하이닉스가 실패사례 공유를 통해 기술혁신을 가속화한다.

SK하이닉스는 지난 25일 ‘실패를 인정하고 노하우를 공유했으면...좋았을 컬’이란 이름으로 제2회 실패사례 경진대회를 개최했다. 여기서 ‘컬’은 문화를 뜻하는 컬쳐(Culture)의 첫 글자다.

이천 본사에서 진행된 이번 행사에는 500여명이 참석했다. 접수된 실패사례는 작년보다 2배 가까이 늘어난 456건이었다.

실패사례 경진대회는 중장기 연구개발을 담당하는 미래기술연구원이 실패사례에서 교훈을 얻어 같은 실수를 되풀이 하지 않기 위해 작년 처음 도입한 제도다. 자발성(등록건수), 적극성(공유방법, 횟수), 파급력(공유범위)을 기준으로 심사한다. 올해는 실패사례 내용 외에 다른 조직에 얼마나 적극적으로 공유했는가를 위주로 평가했다.

5명의 임직원이 수상자로 최종 선정됐다. 최우수상은 D램 소자의 특성 개선과 신뢰성을 높이는 연구로 7건의 실패사례를 전파한 이선행 티엘(TL)이 받았다. 인당 등록건수가 가장 많은 2개 조직은 단체상을 받았다. 개인 및 단체 수상자에게 총 1,100만원의 상금이 주어졌다.

김진국 SK하이닉스 미래기술연구원 담당 부사장은 “의미 있는 실패사례라도 공유되지 않으면 이 자체도 실패일 수 있다”며 “전사적인 실패비용을 줄이기 위해 연구개발 초기가 중요한 만큼 실패를 두려워하지 말고 기술혁신을 위한 패기 있는 도전을 계속해 달라”고 당부했다.